Набор разъемов KZT 5-в-1 для тестирования флеш-памяти NAND iPhone 5G / 5C / 5S / 6G / 6P

Набор разъемов KZT 5-в-1 для тестирования флеш-памяти NAND iPhone предназначен для считывания и перезаписи микросхем IC памяти NAND на мобильных устройствах iPhone 5G / 5C / 5S / 6G / 6P.

Возможности:

• Восстановление / Переустановка / Перепрошивка / Обновление / Удаление прошивки iOS
• Тестирование флеш-памяти NAND.
• Устранение ошибок iPhone при восстановлении:
  • 4014 (ошибка NAND)
  • 9 (ошибка соединения NAND)
  • 1 (ошибка материнской платы)
  • 14 (ошибка обновления iTunes)
  • 53 (ошибка считывания отпечатка пальца)

Примечание: Код ошибки меняется в зависимости от версии ПО iTunes.

Использование:

1. Подсоединить материнскую плату iPhone и гибкий зарядный кабель.
2. Подсоединить материнскую плату iPhone к соответствующему разъему для тестирования.
3. Закрепить адаптер для флеш-памяти NAND на разъеме для тестирования.
4. Установить флеш-память NAND в адаптер для тестирования.
5. Подсоединить к компьютеру, используя ПО iTunes последней версии.

Примечание: При установке флеш-памяти NAND в адаптер для тестирования необходимо внимательно выбирать направление для установки, поскольку в случае ошибки можно повредить материнскую плату.

Комплектация:

Набор разъемов KZT 5-в-1 для тестирования флеш-памяти NAND iPhone - 1 шт.